MiniTest1100/MiniTest2100涂層測厚儀
更新時間：2024-09-10
MiniTest1100/MiniTest2100涂層測厚儀介紹：用于所有非鐵磁性金屬上的各種絕緣涂層?？膳?0多種不同用戶和量程的智能探頭，量程0.1μm～100mm。
德國EPK涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點
（德國EPK）MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
（德國EPK）MiniTest1100/2100/3100/4100新型適用于鐵磁性或有色金屬的兩用探頭，99個校準校準記憶，存儲500組10000個數值，多種統計數據處理方式，聲音超限報警，背光顯示，RS-232接口，可接計算機和打印機.
德國EPK涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術參數：
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲的數據量 | ||||
| 應用行數（根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數） | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個應用行下的組（BATCH）數（對組內數據自動統計，可設寬容度極限值） | - | 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數 | - | 1 | 500 | 500 |
| 數據總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統計計算功能 | ||||
| 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ |
| 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ |
| 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 | - | - | - | √ |
| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 | - | - | √ | √ |
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | - | √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 透過涂層進行校準（CTC） | - | √ | √ | √ |
| 在粗糙表面上作平均零校準 | √ | √ | √ | √ |
| 利用計算機進行基礎校準 | √ | √ | √ | √ |
| 補償一個常數（Offset） | - | - | √ | √ |
| 外設的讀值傳輸存儲功能 | - | √ | √ | √ |
| 保護并鎖定校準設置 | √ | √ | √ | √ |
| 換電池是存儲數值 | √ | √ | √ | √ |
| 設置極限值 | - | - | √ | √ |
| 公英制轉換 | √ | √ | √ | √ |
| 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 | - | - | √ | √ |
| 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 | - | - | √ | √ |
| 浮點和定點方式數據傳送 | √ | √ | √ | √ |
| 組內單值延遲顯示 | - | √ | √ | √ |
| 連續測量模式中顯示zui小值 | √ | √ | √ | √ |
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率誤差 半徑（凸/凹） zui小測量
區域直徑zui小基
體厚度探頭尺寸 磁
感
應
法 < F05 0-500μm 0.1μm ±（1%±0.7μm） 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 5mm 0.5mm φ8x170mm F3 0-3000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5μm ±（1%±10μm） 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10μm ±（1%±10μm） 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10μm ±（3%±50μm） 300mm 2mm φ45x70mm 兩
用
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μmφ15x62mm FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 30mm F0.5mm
N50μmφ21x89mm FN2 0-2000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 5mm F0.5mm
N50μmφ15x62mm 電
渦
流
法 N02 0-200μm 0.1μm ±（1%±0.5μm） 2mm 50μm φ16x70mm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±（1%±1μm） 2mm 100μm φ15x62mm N1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 2mm 50μm φ15x62mm N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 5mm 50μm φ13x170mm N10 0-10mm 10μm ±（1%±25μm） 50mm 50μm φ60x50mm N20 0-20mm 10μm ±（1%±50μm） 70mm 50μm φ65x75mm N100 0-100mm 100μm ±（1%±0.3mm） 200mm 50μm φ126x155mm CN02 10-200μm 0.2μm ±（1%±1μm） 7mm 無限制 φ17x80mm
注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
探頭圖示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高（0.1μm）
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
